
致密砂巖氣藏開發(fā)過程中,水鎖傷害已成為制約天然氣產能提升的關鍵因素,其傷害程度與儲層的微觀孔隙結構密切相關。本文基于二維核磁共振技術,結合差譜分析方法,系統(tǒng)研究了三類典型致密砂巖氣藏儲層(Ⅰ型、Ⅱ型和Ⅲ型)的水鎖傷害特征及其作用機理。研究結果表明,水鎖傷害程度與儲層初始滲透率呈負相關性,Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ類儲層的水鎖傷害程度分別為45.17%、69.43%與80.45%;核磁共振測試結果顯示,微孔和中孔是束縛水滯留的主要孔隙空間,其中Ⅲ類儲層微孔束縛水滯留率高達91.60%,顯著高于Ⅰ類儲層的65.06%;儲層微孔含量的增加導致束縛水占比上升,從而加劇水鎖傷害程度。從Ⅰ類到Ⅲ類儲層,微孔比例逐漸增大,孔隙內束縛水含量增加,水鎖傷害程度顯著增強。研究成果為致密砂巖氣藏的高效開發(fā)提供了重要理論依據(jù)。
選取鄂爾多斯盆地盒8段致密砂巖氣藏三類典型巖心開展水鎖傷害研究。

圖1 三類儲層類型典型孔隙類型
采用紐邁PQ001型核磁共振儀進行核磁共振測試,磁場強度為0.28±0.03 T,射頻脈沖范圍為1 MHz至30 MHz。采用CPMG序列采集T2譜,等待時間2500 ms,累加次數(shù)64次,回波時間0.06 ms,回波個數(shù)8000次。采用SR-CPMG序列采集T1-T2譜,等待時間10 ms,累加次數(shù)32次,回波時間0.06 ms,回波個數(shù)5000次。實驗測試流程如圖2所示。

圖2 水鎖傷害實驗裝置及流程
通過差譜分析方法對比水鎖傷害前后二維核磁共振測試結果,進而明確水鎖傷害孔隙空間。將束縛水狀態(tài)下獲得T1-T2數(shù)據(jù)矩陣A與飽和水狀態(tài)獲得T1-T2數(shù)據(jù)矩陣B做差,得到差譜矩陣P,以此表征水鎖傷害。計算方法見式(1):

P中元素大于0的部分反映束縛水賦存空間,元素小于0部分反映自由水賦存空間。通過計算P中束縛水孔隙空間所占面積的比值,進一步定量分析水鎖傷害特征,計算方法見式(2):

式中,Qb表征束縛水孔隙空間面積占比,%;Sf為自由水孔隙空間面積;Sb為束縛水孔隙空間面積。
隨著含水飽和度的增加,巖心滲透率逐漸降低,儲層水鎖傷害程度逐漸增加。從Ⅰ類儲層到Ⅲ類儲層,束縛水飽和度逐漸增加,水鎖傷害程度逐漸增強。

圖3 三類儲層滲透率傷害特征
Ⅲ類儲層水鎖傷害最為顯著,地層水滯留率最高。地層水主要滯留在小孔孔內,其次是中孔,大孔內的地層水最先排出。

圖4 不同類型儲層水鎖傷害T2譜
T1-T2譜測試結果表明,I、II類儲層地層水集中在中孔,隨飽和度降低向小孔遷移;III類儲層地層水始終滯留在小孔,難以排出,水鎖傷害最顯著。

圖5 不同含水飽和度下二維核磁共振T1-T2譜
如圖6所示,圖中紅色區(qū)為束縛水滯留空間,藍色區(qū)為地層水的主要滲流通道;III類儲層紅色區(qū)域的分布范圍最廣,且信號幅度較大,束縛水主要聚集在小孔內,水鎖傷害最為嚴重。

圖6 不同孔隙空間水鎖傷害特征
本研究基于二維核磁共振差譜分析技術,揭示了致密砂巖氣藏水鎖傷害的微觀機制。實驗分析表明,水鎖傷害程度與儲層初始滲透率呈負相關,從I類到III類儲層,傷害率分別為45.17%、69.43%和80.45%;微孔是束縛水滯留的主要場所,其滯留率在III類儲層中高達91.60%,顯著降低有效孔隙度與滲透率;微孔比例與束縛水滯留及地層傷害呈強正相關。二維核磁共振差譜分析方法可定量表征束縛水分布特征,量化其對滲透率損失的貢獻,為儲層傷害評價與治理提供了新手段。
(1)滲透率是影響水鎖傷害的關鍵因素。初始滲透率越低水鎖傷害越顯著,從Ⅰ類儲層到Ⅲ類儲層,滲透率值不斷減小,水鎖傷害程度逐步加劇。
(2)微孔是束縛水滯留的主要場所,顯著降低了有效孔隙度和滲透率。在III類儲層中,微孔束縛水滯留率高達91.60%,遠高于I類(65.06%)和II類(70.93%)。
(3)微孔比例與束縛水滯留及整體地層傷害呈顯著正相關,為進一步建立孔隙結構與儲層傷害之間的預測模型提供了依據(jù)。
(4)二維核磁共振差譜分析方法實現(xiàn)地層水孔隙尺度滯留的定量評價,可以有效用于評價水鎖傷害。為減少微孔中的束縛水滯留,建議適當調整開發(fā)方式,優(yōu)化注采方案。
Luo K, Gao H, Wang X, et al. Mechanism of water blocking damage in tight sandstone gas reservoirs: Novel insights from differential spectrum analysis of 2D NMR data[J]. Measurement, 2025: 119360.

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